上海洪富儀器儀表有限公司
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文章詳情
探傷儀選型
日期：2024-12-20 10:11
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摘要：
超聲波選型大全
JB/T4730.3—2005
代替JB 4730—1994
1 范 圍
JB/T 4730的本部分規(guī)定了承壓設(shè)備采用A型脈沖反射式超聲波探傷儀檢測工件缺陷的超聲檢測方法和質(zhì)量分級要求。
本部分適用于金屬材料制承壓設(shè)備用原材料、零部件和焊接接頭的超聲檢測，也適用于金屬材料制在用承壓設(shè)備的超聲檢測。
與承壓設(shè)備有關(guān)的支承件和結(jié)構(gòu)件的超聲檢測，也可參照本部分使用。
2 規(guī)范性引用文件
下列文件中的條款通過JB/T 4730的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有的修改單(不包括勘誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本部分，然而，鼓勵根據(jù)本部分達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的*新版本。凡是不注日期的引用文件，其*新版本適用于本部分。
JB/T 4730.1 承壓設(shè)備無損檢測第1部分:通用要求
JB/T 7913—1995 超聲波檢測用鋼制對比試塊的制作與校驗方法
JB/T 9214—1999 A型脈沖反射式超聲探傷系統(tǒng)工作性能測試方法
JB/T 10061—1999 A型脈沖反射式超聲波探傷儀通用技術(shù)條件
JB/T 10062—1999 超聲探傷用探頭性能測試方法
JB/T 10063—1999 超聲探傷用1號標準試塊技術(shù)條件
3 一般要求
3.1 超聲檢測人員
超聲檢測人員的一般要求應(yīng)符合JBFF 4730.1的有關(guān)規(guī)定。
3.2 檢測設(shè)備
3.2.1 超聲檢測設(shè)備均應(yīng)具有產(chǎn)品質(zhì)量合格證或合格的證明文件。
3.2.2 探傷儀、探頭和系統(tǒng)性能
3.2.2.1探傷儀
采用A型脈沖反射式超聲波探傷儀，其工作頻率范圍為0.5MHz～10MHz，儀器至少在熒光屏滿刻度的80%范圍內(nèi)呈線性顯示。探傷儀應(yīng)具有80dB以上的連續(xù)可調(diào)衰減器，步進級每檔不大于2dB，其精度為任意相鄰12dB的誤差在±1dB以內(nèi)，*大累計誤差不超過1dB。水平線性誤差不大于1%，垂直線性誤差不大于5%。其余指標應(yīng)符合JB/T10061的規(guī)定。
3.2.2.2 探頭
3.2.2.2.1 晶片面積一般不應(yīng)大于500mm2，且任一邊長原則上不大于25mm。
3.2.2.2.2 單斜探頭聲束軸線水平偏離角不應(yīng)大于2°，主聲束垂直方向不應(yīng)有明顯的雙峰。
3.2.2.3 超聲探傷儀和探頭的系統(tǒng)性能
3.2.2.3.1 在達到所探工件的*大檢測聲程時，其有效靈敏度余量應(yīng)不小于10dB。
3.2.2.3.2 儀器和探頭的組合頻率與公稱頻率誤差不得大于±10%。
3.2.2.3.3 儀器和直探頭組合的始脈沖寬度(在基準靈敏度下):對于頻率為5MHz的探頭，寬度不大于10mm；對于頻率為2.5MHz的探頭，寬度不大于15mm。
3.2.2.3.4 直探頭的遠場分辨力應(yīng)不小于30dB，斜探頭的遠場分辨力應(yīng)不小于6dB。
3.2.2.3.5 儀器和探頭的系統(tǒng)性能應(yīng)按JB/T 9214和JB/T10062的規(guī)定進行測試。
3.3 超聲檢測一般方法
3.3.1 檢測準備
3.3.1.1 承壓設(shè)備的制造、安裝和在用檢驗中，超聲檢測的檢測時機及抽檢率的選擇等應(yīng)按相關(guān)法規(guī)、標準及有關(guān)技術(shù)文件的規(guī)定。
3.3.1.2 所確定檢測面應(yīng)保證工件被檢部分均能得到充分檢查。
3.3.1.3 焊縫的表面質(zhì)量應(yīng)經(jīng)外觀檢測合格。所有影響超聲檢測的銹蝕、飛濺和污物等都應(yīng)予以**，其表面粗糙度應(yīng)符合檢測要求。表面的不規(guī)則狀態(tài)不得影響檢測結(jié)果的正確性和完整性，否則應(yīng)做適當?shù)奶幚怼?/span>
3.3.2 掃查覆蓋率
為確保檢測時超聲聲束能掃查到工件的整個被檢區(qū)域，探頭的每次掃查覆蓋率應(yīng)大于探頭直徑的15%。
3.3.3 探頭的移動速度
探頭的掃查速度不應(yīng)超過150mm/s。當采用自動報警裝置掃查時，不受此限。
3.3.4 掃查靈敏度
掃查靈敏度通常不得低于基準靈敏度。
3.3.5 耦合劑
應(yīng)采用透聲性好，且不損傷檢測表面的耦合劑，如機油、漿糊、甘油和水等。
3.3.6 靈敏度補償
a) 耦合補償。在檢測和缺陷定量時，應(yīng)對由表面粗糙度引起的耦合損失進行補償。
b) 衰減補償。在檢測和缺陷定量時，應(yīng)對材質(zhì)衰減引起的檢測靈敏度下降和缺陷定量誤差進行補償。
c) 曲面補償。對探測面是曲面的工件，應(yīng)采用曲率半徑與工件相同或相近的試塊，通過對比試驗進行曲率補償。
3.4 系統(tǒng)校準和復(fù)核
3.4.1 一般要求
系統(tǒng)校準應(yīng)在標準試塊上進行，校準中應(yīng)使探頭主聲束垂直對準反射體的反射面，以獲得穩(wěn)定和*大的反射信號。
3.4.2 儀器校準
每隔3個月至少對儀器的水平線性和垂直線性進行一次測定，測定方法按JB/T10061的規(guī)定。
3.4.3 新購探頭測定
新購探頭應(yīng)有探頭性能參數(shù)說明書，新探頭使用前應(yīng)進行前沿距離、K值、主聲束偏離、靈敏度余量和分辨力等主要參數(shù)的測定。測定應(yīng)按JB/T10062的有關(guān)規(guī)定進行，并滿足其要求。
3.4.4 檢測前儀器和探頭系統(tǒng)測定
3.4.4.1 使用儀器—斜探頭系統(tǒng)，檢測前應(yīng)測定前沿距離、K值和主聲束偏離，調(diào)節(jié)或復(fù)核掃描量程和掃查靈敏度。
3.4.4.2 使用儀器一直探頭系統(tǒng)，檢測前應(yīng)測定始脈沖寬度、靈敏度余量和分辨力，調(diào)節(jié)或復(fù)核掃描量程和掃查靈敏度。
3.4.5 檢測過程中儀器和探頭系統(tǒng)的復(fù)核
a) 校準后的探頭、耦合劑和儀器調(diào)節(jié)旋鈕發(fā)生改變時；
b) 檢測人員懷疑掃描量程或掃查靈敏度有變化時；
c) 連續(xù)工作4h以上時；
d) 工作結(jié)束時。
3.4.6 檢測結(jié)束前儀器和探頭系統(tǒng)的復(fù)核
a) 每次檢測結(jié)束前，應(yīng)對掃描量程進行復(fù)核。如果任意一點在掃描線上的偏移超過掃描線讀數(shù)的10%，則掃描量程應(yīng)重新調(diào)整，并對上一次復(fù)核以來所有的檢測部位進行復(fù)檢。
b) 每次檢測結(jié)束前，應(yīng)對掃查靈敏度進行復(fù)核。一般對距離一波幅曲線的校核不應(yīng)少于3點。如曲線上任何一點幅度下降2dB，則應(yīng)對上一次復(fù)核以來所有的檢測部位進行復(fù)檢；如幅度上升2dB，則應(yīng)對所有的記錄信號進行重新評定。
3.4.7 校準、復(fù)核的有關(guān)注意事項
校準、復(fù)核和對儀器進行線性檢測時，任何影響儀器線性的控制器(如抑制或濾波開關(guān)等)都應(yīng)放在“關(guān)”的位置或處于*低水平上。
3.5 試塊
3.5.1 標準試塊
3.5.1.1 標準試塊是指本部分規(guī)定的用于儀器探頭系統(tǒng)性能校準和檢測校準的試塊，本部分采用的標準試塊有:
a) 鋼板用標準試塊:CBⅠ、CBⅡ；
b) 鍛件用標準試塊:CSⅠ、CSⅡ、CSⅢ；
c) 焊接接頭用標準試塊:CSK-ⅠA、CSK-ⅡA、CSK-ⅢA、CSK-ⅣA。
3.5.1.2 標準試塊應(yīng)采用與被檢工件聲學(xué)性能相同或近似的材料制成，該材料用直探頭檢測時，不得有大于或等于φ2mm平底孔當量直徑的缺陷。
3.5.1.3 標準試塊尺寸精度應(yīng)符合本部分的要求，并應(yīng)經(jīng)計量部門檢定合格。
3.5.1.4 標準試塊的其他制造要求應(yīng)符合JB/T 10063和JB/T 7913的規(guī)定。
3.5.2 對比試塊
3.5.2.1 對比試塊是指用于檢測校準的試塊。
3.5.2.2 對比試塊的外形尺寸應(yīng)能代表被檢工件的特征，試塊厚度應(yīng)與被檢工件的厚度相對應(yīng)。如果涉及到兩種或兩種以上不同厚度部件焊接接頭的檢測，試塊的厚度應(yīng)由其*大厚度來確定。
3.5.2.3 對比試塊反射體的形狀、尺寸和數(shù)量應(yīng)符合本部分的規(guī)定。
4 承壓設(shè)備用原材料、零部件的超聲檢測和質(zhì)量分級
4.1 承壓設(shè)備用鋼板超聲檢測和質(zhì)量分級
4.1.1 范圍
本條適用于板厚為6mm～250mm的碳素鋼、低合金鋼制承壓設(shè)備用板材的超聲檢測和質(zhì)量分級。
奧氏體鋼板材、鎳及鎳合金板材以及雙相不銹鋼板材的超聲檢測也可參照本章執(zhí)行。
4.1.2 探頭選用
4.1.2.1 探頭選用應(yīng)按表1的規(guī)定進行。
表1 承壓設(shè)備用板材超聲檢測控闊頭選用
板厚，mm | 采用探頭 | 公稱頻率，MHz | 探頭晶片尺寸 |
6～20 | 雙晶直探頭 | 5 | 晶片面積不小于150mm2 |
>20～40 | 單晶直探頭 | 5 | φ14mm～φ20mm |
>40～250 | 單晶直探頭 | 2.5 | φ20mm～φ25mm |
4.1.2.2 雙晶直探頭性能應(yīng)符合附錄A(規(guī)范性附錄)的要求。
4.1.3 標準試塊
4.1.3.1
